SN74ABTH18646APM

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Peça do fabricante

SN74ABTH18646APM

Fabricante
Texas
Descrição
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Categoria
circuitos integrados
Família
lógica - lógica especial
Series
-
Em estoque
160
Folhas de dados on-line
-
Investigação
  • Series:74ABTH
  • pacote:Tray
  • estado da peça:Active
  • tipo de lógica:Scan Test Device With Transceivers And Registers
  • tensão de alimentação:4.5V ~ 5.5V
  • número de bits:18
  • Temperatura de operação:-40°C ~ 85°C
  • tipo de montagem:Surface Mount
  • pacote / caso:64-LQFP
  • pacote de dispositivos do fornecedor:64-LQFP (10x10)
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